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日本NCC工作臺(tái)灰塵檢查燈ZEUS 無極燈 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆粒”的異物受到重力的影響，在制造現(xiàn)場(chǎng)的各處（墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面）積聚。
更新日期：2024-03-25 訪問量：572
日本NCC地板灰塵檢查燈ZEUS 無極燈 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆?！钡漠愇锸艿街亓Φ挠绊?，在制造現(xiàn)場(chǎng)的各處（墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面）積聚。
更新日期：2024-03-25 訪問量：563
日本NCC墻壁灰塵檢查燈ZEUS 無極燈 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆粒”的異物受到重力的影響，在制造現(xiàn)場(chǎng)的各處（墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面）積聚。
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日本NCC手持式灰塵可視化檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆?！钡漠愇锸艿街亓Φ挠绊懀谥圃飕F(xiàn)場(chǎng)的各處（墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面）積聚。
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日本NCC異物缺陷檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆?！钡漠愇锸艿街亓Φ挠绊?，在制造現(xiàn)場(chǎng)的各處（墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面）積聚。
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日本NCC室內(nèi)灰塵檢查燈ZEUS 為什么灰塵和異物造成的缺陷沒有減少？這是因?yàn)?0μm到100μm的灰塵、污垢和被稱為“粗顆粒”的異物受到重力的影響，在制造現(xiàn)場(chǎng)的各處（墻壁、地板、工作臺(tái)、產(chǎn)品表面）積聚。
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union組裝電池晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的精密焊接，且飛濺少。 適應(yīng)工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細(xì)線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素?zé)?，斷路器，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問量：788
union電動(dòng)自行車晶體管焊接電源UDT-A80T
union電動(dòng)自行車晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的精密焊接，且飛濺少。 適應(yīng)工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細(xì)線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素?zé)簦瑪嗦菲?，連接器等。
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union便攜式電源晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的精密焊接，且飛濺少。 適應(yīng)工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細(xì)線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素?zé)?，斷路器，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問量：849
union高壓汽車晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的精密焊接，且飛濺少。 適應(yīng)工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細(xì)線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素?zé)簦瑪嗦菲?，連接器等。
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union電動(dòng)汽車晶體管焊接電源UDT-A80T
union電動(dòng)汽車晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的精密焊接，且飛濺少。 適應(yīng)工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細(xì)線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素?zé)?，斷路器，連接器等。
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union電動(dòng)工具晶體管焊接電源UDT-A80T
union電動(dòng)工具晶體管焊接電源UDT-A80T 控制速度快，極性切換功能可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的精密焊接，且飛濺少。 適應(yīng)工作： 焊接要求很高的電子零件，例如電池，電池引線板，細(xì)線，鍍層，不同厚度的材料，金屬箔，繼電器，鹵素?zé)?，斷路器，連接器等。
更新日期：2024-03-25 訪問量：799
seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測(cè)SIS-150 光學(xué)測(cè)量?jī)x
seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測(cè)SIS-150 它非常適合無損檢測(cè)，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：865
日本seiwaopt硅晶片內(nèi)部檢查光源SIS-150 光學(xué)測(cè)量?jī)x
日本seiwaopt硅晶片內(nèi)部檢查光源SIS-150 它非常適合無損檢測(cè)，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：819
日本seiwaopt非破壞性檢查光源SIS-150 光學(xué)測(cè)量?jī)x
日本seiwaopt非破壞性檢查光源SIS-150 它非常適合無損檢測(cè)，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：812
