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日本mwl帶計時器自動鎢拋光機(jī)MT-10DX

日本mwl帶計時器自動鎢拋光機(jī)MT-10DX 只需將電極插入要使用的電極尺寸的卡盤單元中，將其安裝到主體上，然后按開關(guān)即可執(zhí)行自動拋光。

更新日期：2024-03-20    訪問量：1201    

日本mwl小型自動鎢拋光機(jī)MT-10D

日本mwl小型自動鎢拋光機(jī)MT-10D 電極直徑從φ1.0到φ3.2。 拋光角可以主要從15度改變?yōu)?0度。 拋光的眼睛沿垂直（軸向）方向。 拋光磨料有5種不同的粒度。

更新日期：2024-03-20    訪問量：1274    

0.1毫米透明塑料粒子黑點選別機(jī) 色選機(jī)

0.1毫米透明塑料粒子黑點選別機(jī) AKIYAMA日本透明黑粒去除機(jī)塑料粒子色選機(jī)塑膠粒子色選機(jī) 塑料色彩選別機(jī) 0.1mm塑膠粒子色選機(jī) 0.1毫米透明粒子黑點選別機(jī) 透明樹脂粒子分揀機(jī)

更新日期：2024-03-20    訪問量：1600    

日本透明樹脂黑粒去除機(jī)-色選機(jī)

日本透明樹脂黑粒去除機(jī) AKIYAMA日本透明黑粒去除機(jī)塑料粒子色選機(jī)塑膠粒子色選機(jī) 塑料色彩選別機(jī) 0.1mm塑膠粒子色選機(jī) 0.1毫米透明粒子黑點選別機(jī) 透明樹脂粒子分揀機(jī)

更新日期：2024-03-20    訪問量：1662    

日本塑料雜質(zhì)粒子色選機(jī)

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更新日期：2024-03-20    訪問量：1566    

帶有瑕疵點的塑料粒子色選機(jī)

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日本進(jìn)口塑料粒子黑點色選機(jī)TS-7400TH

日本進(jìn)口塑料粒子黑點色選機(jī)TS-7400TH AKIYAMA日本透明黑粒去除機(jī)塑料粒子色選機(jī)塑膠粒子色選機(jī) 塑料色彩選別機(jī) 0.1mm塑膠粒子色選機(jī) 0.1毫米透明粒子黑點選別機(jī) 透明樹脂粒子分揀機(jī)

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片劑，膠囊用金屬檢測器KDS1004PSW

日本anritsu片劑，膠囊用金屬檢測器KDS1004PSW 降低金屬探測器的穩(wěn)定性主要原因是，會擾亂金屬探測器磁場的振動、靜電和來自外圍設(shè)備的噪音等。安立的醫(yī)藥行業(yè)金屬探測器，通過加強(qiáng)針對這些原因的耐性，從而實現(xiàn)了穩(wěn)定的高靈敏度檢測。

更新日期：2024-03-20    訪問量：1574    

日本MIC超高電阻測試儀AE-1644E

日本MIC超高電阻測試儀AE-1644E 非常適合安裝 10kΩ ~ 1TΩ 芯片、Melf、軸向型 超高電阻機(jī)器分揀機(jī)、激光和切割機(jī)型修邊機(jī)

更新日期：2024-03-20    訪問量：1259    

日本MIC高精度超低電阻測量儀AE-1152D

日本MIC高精度超低電阻測量儀AE-1152D 自動測量超低電阻的理想之選 非常適合分流電阻器等的超低電阻測量。 取消熱電動勢效應(yīng)的測量 脈沖測量電流，減少測量端子自熱和磨損

更新日期：2024-03-20    訪問量：2142    

日本MIC超高精度數(shù)字電阻測試儀AE-173E

日本MIC超高精度數(shù)字電阻測試儀AE-173E 內(nèi)置換檔電磁閥電源：DC12V（2A）、24V（1A）/脈沖輸出（2A） 內(nèi)置無缺陷計數(shù)器

更新日期：2024-03-20    訪問量：1119    

日本MIC超高精度、數(shù)字電阻檢測儀AE-163L

日本MIC超高精度、數(shù)字電阻檢測儀AE-163L 超小尺寸芯片 （0 2 0 1, 0 3 0 1 5 ...） 兼容精密電阻！ 適用于 B、C、D、F、G、J、K 類、插入式、melf、徑向和軸向電阻分選機(jī)和編帶機(jī)

更新日期：2024-03-20    訪問量：1083    

日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D

日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D 非常適合用于 B、C、D、F、G、J、K 級、插入、melph 、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機(jī)

更新日期：2024-03-20    訪問量：1083    

AE-162L兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測器

日本MIC兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測器AE-162L D、F、G、J、K級超小尖頭（0201、03015）兼容編帶機(jī) 0201、03015尺寸超小型芯片兼容（測量功率0.02W以下/測量端子開路電壓9V以下）

更新日期：2024-03-20    訪問量：986    

日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E

日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E 由于模數(shù)隔離提高了抗噪性，因此穩(wěn)定性高 兼容極小的芯片（低功耗測量） 超高速 0.7msec.（代表值）

更新日期：2024-03-20    訪問量：1010