日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-851

配備自動(dòng)對(duì)焦
選擇兩種測量模式以使測量工作更順暢

?自動(dòng)測量模式
⇒將要測量的物體放在激光筆照射位置，關(guān)門時(shí)，載物
　臺(tái)將自動(dòng)移動(dòng)并自動(dòng)進(jìn)行測量。
-手動(dòng)測量模式
⇒類似于上面的自動(dòng)測量模式，當(dāng)設(shè)置了要測量的物體并且
　門關(guān)閉時(shí)，載物臺(tái)會(huì)自動(dòng)移動(dòng)甚至聚焦

熒光X射線膜測厚儀EX-851的特點(diǎn)

多測量/多校準(zhǔn)線

記錄坐標(biāo)并從激光指示器的照射位置自動(dòng)測量多個(gè)點(diǎn)。
可以使用不同的校準(zhǔn)線測量多個(gè)點(diǎn)。

自動(dòng)對(duì)焦

只需將測量單元對(duì)準(zhǔn)激光指示器的位置，然后關(guān)上門即可自動(dòng)移至測量值并執(zhí)行測量。
測量后，打開門，載物臺(tái)將自動(dòng)返回到前面。

采用雙重過濾器

通過使用除中性過濾器之外的機(jī)械過濾器（雙重過濾器），可以在z佳條件下進(jìn)行測量，從而始終獲得z高的精度。

增強(qiáng)的報(bào)告創(chuàng)建功能

通過采用MS-Windows軟件，您可以輕松捕獲測量屏幕并增強(qiáng)報(bào)告創(chuàng)建功能。
使用多任務(wù)功能，即使在測量過程中，也可以進(jìn)行包括報(bào)告創(chuàng)建在內(nèi)的其他處理。

內(nèi)置5種準(zhǔn)直儀

z小準(zhǔn)直儀為0.1φmm，可測量極小的零件。
標(biāo)準(zhǔn)0.1、0.2、0.5、1.0、2.0
另外，有兩種特殊規(guī)格可供選擇。
? 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
? 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自診斷功能和X射線管維護(hù)功能

自診斷功能會(huì)立即采取措施解決設(shè)備問題。
另外，增加了X射線管的使用時(shí)間和耐用時(shí)間顯示功能，以確保維護(hù)安全。

膜厚測量中的頻譜顯示

多通道光譜分析高速處理使簡單的操作可以顯示被測物體的光譜。（處理速度約2至3秒）

顯示測量單元監(jiān)控圖像

將X射線照射部件導(dǎo)入Windows屏幕并顯示X射線照射部件。
準(zhǔn)直儀實(shí)現(xiàn)改變尺寸的放大率改變功能。

可視化顯示被測物的鍍層附著力分布

3D圖形顯示使您可以一目了然地檢查被測物體的鍍層厚度分布。

Be窗口X射線管（選件）提高的性能（高精度）

我們已經(jīng)為熒光X厚度計(jì)準(zhǔn)備了Be窗口X射線管。

通過使用Be窗口X射線管，顯著提高了Cr測量和Ni測量的重復(fù)測量精度。

與標(biāo)準(zhǔn)X射線管的比較

高能量（高原子序數(shù)）Sn等的測量與以前相同。

當(dāng)測量低能量（低原子序數(shù)）的Cr和Ni時(shí)，重復(fù)精度提高了Cr約3倍，Ni約2倍。

當(dāng)測量兩層時(shí)，中間層Ni的測??量精度提高了約20％。

通過使用Be窗X射線管，在Cr的情況下，與常規(guī)標(biāo)準(zhǔn)機(jī)器相比，可以獲得約9倍或更大的熒光X射線強(qiáng)度。

因此，可以在短時(shí)間內(nèi)以與以前相同的精度進(jìn)行測量。

請(qǐng)考慮使用此Be窗口X射線管。

  日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-851

熒光X射線膜厚計(jì)EX-851的規(guī)格