日本yokogawa光譜分析儀AQ6374

• 波長范圍：350-1750nm

• 波長分辨率設置：0.05-10nm

• 寬電平范圍：+20 至 -80dBm

• 波長精度：± 0.05 nm

• 電平靈敏度：-80 dBm

• 動態(tài)范圍：60 分貝

• 波長采樣數(shù)：100001點

• 用于校準/波長校準的內置光源

• 吹掃機制

日本yokogawa光譜分析儀AQ6374

光學性能

波長范圍：350-1750nm

一個單元涵蓋從可見光到光通信波長的寬波長范圍。
它可用于評估各種設備。

波長分辨率設置：0.05-10nm

可用于DFB-LD和VCSEL的發(fā)射光譜測量以及光纖的波長損耗特性等廣泛的應用。

寬測量電平范圍：+20 至 -80dBm

從高功率信號測量到弱光測量，您可以根據應用和測量速度等條件從 7 個級別中選擇合適的測量靈敏度設置。

可用空間輸入

不僅可以使用單模光纖和多模光纖，還可以使用800μm大直徑光纖。

吹掃機制

在 1380 nm 附近的波長范圍內，由于水蒸氣的影響，觀察到強烈的光吸收，這可能會干擾測量。
AQ6374通過從背面的供氣口/排氣口向單色器內部連續(xù)供給氮氣等吹掃氣體，可以降低水蒸氣光吸收對測量的影響。

內置高階衍射光截止濾光片

根據測量波段自動設置用于去除不必要的階次重疊的濾光片。

出色的測量吞吐量

高速光譜測量

采用先進的單色器技術、高速電路、新創(chuàng)的降噪技術，實現(xiàn)高速光譜測量。
對于測量激光和弱信號等急劇上升的光譜非常有用。

波長樣本數(shù)：100001

將波長樣本數(shù)加倍。您可以同時測量更寬的波長范圍，同時保持高分辨率。
解決了數(shù)據點數(shù)量不足導致波長分辨率顯著下降、波長范圍劃分測量效率低下等問題，使測量更加準確、高效。